Ppłk prof. dr hab. inż. Przemysław Wojciech Wachulak od 2009 r. zatrudniony jest w Instytucie Optoelektroniki Wojskowej Akademii Technicznej, gdzie zajmuje się opracowywaniem i zastosowaniami źródeł promieniowania z zakresu skrajnego nadfioletu EUV i miękkiego promieniowania rentgenowskiego SXR do m.in. nanoobrazowania, holografii, radiografii, radiobiologii, spektroskopii i tomografii. Swoje badania opiera na laserowo-plazmowych źródłach promieniowania EUV i SXR, bazujących na podwójnej tarczy gazowej. W ostatnich latach opracował pierwsze w Polsce, a pod względem konstrukcyjnym pierwsze na świecie, mikroskopy na zakres EUV i SXR z rozdzielczością ok. 50 nanometrów. Aktualnie zajmuje się badaniami związanymi ze spektroskopią absorpcyjną NEXAFS oraz rentgenowską koherentną tomografią SXR w badaniach materiałowych.
Ppłk prof. Wachulak uzyskał tytuł zawodowy magistra inżyniera na Wydziale Elektroniki Wojskowej Akademii Technicznej w 2004 r. Stopień naukowy „doctor of philosophy” otrzymał na Wydziale Elektrycznym i Komputerowym Uniwersytetu Stanowego w Kolorado, Fort Collins, Stany Zjednoczone, w 2008 r. Doktorat został nostryfikowany na Wydziale Elektroniki i Technik Informacyjnych Politechniki Warszawskiej w 2009 r. W styczniu 2013 r. uzyskał stopień naukowy doktora habilitowanego nauk fizycznych w zakresie fizyki, specjalność: optyka, na Wydziale Fizyki Uniwersytetu Warszawskiego. W 2018 r., otrzymał od Prezydenta Rzeczypospolitej Polskiej tytuł naukowy profesora nauk technicznych.
Jego dorobek naukowy to ok. 190 indeksowanych publikacji, index Hirscha 23 i ponad 1370 cytowań (dane z bazy Scopus, październik 2018).